特許

J-GLOBAL ID：200903044852735980

粒子速度の測定方法及び粒子速度測定装置

発明者： 根岸 公一
出願人/特許権者： 株式会社ブリヂストン
代理人 (1件)： 宮園 純一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-342229
公開番号（公開出願番号）：特開2002-148270
出願日： 2000年11月09日
公開日（公表日）： 2002年05月22日
要約：

【要約】【課題】 画像処理法を有効に活用して、ブラスト噴流中の投射材のような、粒径の小さな粒子の速度を測定する。【解決手段】 噴射ノズル11から噴射される圧縮空気とともに圧送された投射材Pを含む噴流Jを、ストロボ12とデジタルカメラ13とを用いて撮影した多重露光のシャドウ写真を画像処理装置20に取込み、上記シャドウ写真の中から、2つの同一粒子と推定される粒子像を抽出し、上記粒子の画像上での位置関係を演算して上記粒子の移動距離を測定して上記固体粒子の速度を算出する。

請求項（抜粋）：

流体に固体粒子が混入した噴流の多重露光のシャドウ写真を撮影した後、上記シャドウ写真の中から、少なくとも2つの同一粒子と推定される粒子像を抽出して上記粒子の移動距離を測定し、上記固体粒子の速度を算出するようにしたことを特徴とする粒子速度の測定方法。