特許

J-GLOBAL ID：200903044859070372

半導体装置

発明者： 岩本 久
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-098791
公開番号（公開出願番号）：特開2002-296326
出願日： 2001年03月30日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
要約：

【要約】【課題】 内部クロック信号のジッタが大きいと正確なスキューの測定ができなかった。【解決手段】 テストモード信号TMが活性化すると位相検出器101から出力される信号/UPおよびDOWNの活性化期間が小さくなる。

請求項（抜粋）：

外部クロック信号と内部クロック信号の位相差にしたがって活性化される第1および第2の信号を発生し、テストモード信号の活性化に応答して前記第1および第2の信号の活性期間を小さくする位相検出器、および前記第1および第2の信号にしたがい変化する内部クロック信号を発生する可変内部クロック発生回路を備える半導体装置。

IPC (6件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/319 ,  G11C 11/407 ,  G11C 29/00 671 ,  H03L 7/089 ,  H03L 7/081

FI (8件)：

G11C 29/00 671 M ,  G01R 31/28 V ,  G01R 31/28 R ,  G01R 31/28 B ,  G11C 11/34 354 C ,  G11C 11/34 362 S ,  H03L 7/08 D ,  H03L 7/08 J

Fターム (37件)：

2G132AA03 ,  2G132AA08 ,  2G132AB10 ,  2G132AD04 ,  2G132AG08 ,  2G132AK17 ,  2G132AK21 ,  2G132AL11 ,  5J106AA04 ,  5J106CC24 ,  5J106CC41 ,  5J106CC58 ,  5J106CC59 ,  5J106DD32 ,  5J106GG04 ,  5J106HH08 ,  5J106HH10 ,  5J106JJ02 ,  5J106KK25 ,  5J106KK32 ,  5L106AA01 ,  5L106DD11 ,  5L106GG07 ,  5M024AA49 ,  5M024BB27 ,  5M024BB40 ,  5M024DD83 ,  5M024DD90 ,  5M024GG01 ,  5M024JJ03 ,  5M024JJ38 ,  5M024MM02 ,  5M024MM04 ,  5M024PP01 ,  5M024PP02 ,  5M024PP03 ,  5M024PP07