電子制御装置の検査方法及びこの方法を使用する制御装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：矢野敏雄 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-518256
公開番号（公開出願番号）：特表平8-508104
出願日： 1994年12月16日
公開日（公表日）： 1996年08月27日
要約：

【要約】本発明は電子制御装置の検査方法に関する。電子制御装置はマイクロコンピュータ(14)を含んでいる。制御装置(12)の検査のために制御装置(12)においてプログラムモジュールが検査のために処理される。検査の際にはマイクロコンピュータ(14)は検査命令を外部検査装置(10)から受け取る。この外部検査装置(10)はシリアルインターフェース(SS0)を介して制御装置(12)に接続されている。電子制御装置(12)は検査の間データ、例えば測定結果及び/又は検査結果を外部検査装置(10)に伝送する。その後外部検査装置(10)は制御装置(12)から受け取ったデータを評価し、及び/又は表示する。制御装置の検査方法は、制御装置(12)に揮発性メモリ (Code-RAM)を用意し、該メモリにはマイクロコンピュータによって処理され得るプログラムが書き込み可能であることを特徴とする。検査のためのプログラムモジュールはシリアルデータ伝送線路(15)を介してマイクロコンピュータ(14)に伝送され、揮発性メモリ(Code-RAM)に書き込まれる。検査のためのプログラムモジュールはデータ書込み操作及び/又はデータ読出し操作が実施され得るように構成される。

請求項（抜粋）：

1. 例えば自動車の制御装置等の電子制御装置の検査方法であって、マイクロコンピュータによって制御装置の検査のためのプログラムモジュールが実行され、マイクロコンピュータによって検査期間中に外部検査装置からの検査命令がシリアルインターフェースを介して受け取られ、例えば測定結果及び/又は検査結果等のデータが外部検査装置に送出され、制御装置から受け取ったデータは外部検査装置によって評価され及び/又は表示される、電子制御装置の検査方法において、制御装置(12)に揮発性メモリ(Code-RAM)を設け、該揮発性メモリにはマイクロコンピュータ(14)によって実行されるプログラムが書込み可能であり、検査のためのプログラムモジュールを先にシリアルインターフェース(SSO)を介してマイクロコンピュータ(14)に伝送し、マイクロコンピュータ(14)からのプログラムモジュールを揮発性メモリ(Code-RAM)に書込み、検査のためのプログラムモジュールを、それにより電子制御装置(12)内でデータ書込み動作及び/又はデータ読出し動作が実行され得るように設計し、この場合個々のデータ書込み動作及び/又はデータ読出し動作は、外部検査装置(10)から検査すべき制御装置(12)に送出される各検査命令によってトリガされることを特徴とする、電子制御装置の検査方法。2. 前記データ書込み動作によって特定されるマイクロコンピュータ(14)の所定のレジスタは、制御装置(12)の所定の出力側(34〜37)から所定の出力信号が生ぜしめられるようにセッティングされる、請求の範囲第1項記載の電子制御装置の検査方法。3. データ読出し動作の際に特定のレジスタ(PORT1,16〜19)の内容及び/又は記憶場所がマイクロコンピュータ(14)によって読出され、外部検査装置(10)に伝送される、請求の範囲第1項又は2項記載の電子制御装置の検査方法。4. 検査のためのプログラムモジュール内にシリアルデータ伝送プロトコルのためのプログラムモジュールが統合化され、それによって、検査のためのプログラムモジュールの開始後に外部検査装置(10)と電子制御装置(12)との間のデータ伝送が、検査のためのプログラムモジュールのシリアルデータ伝送プロトコルに従って行われる、請求の範囲第1項〜3項いずれか1項記載の電子制御装置の検査方法。5. 前記シリアルデータ伝送プロトコルとして、外部検査装置(10)と電子制御装置(12)との間のクロック同期式通信のためのプロトコルが使用される、請求の範囲第4項記載の電子制御装置の検査方法。6. 前記外部検査装置(10)と電子制御装置(12)との間に、外部検査装置(10)によって制御可能なインターフェース回路(11)が接続され、該インターフェース回路(11)を介して複数の信号が制御装置(12)の所定の入力側(30〜33)に送出可能である、請求の範囲第1項〜5項いずれか1項記載の電子制御装置の検査方法。7. 前記制御装置(12)は検査のために外部回路(13)を備えており、該外部回路(13)によっては制御装置(12)の所定の出力側(34〜37)が制御装置(12)の所定の入力側(38〜41)へ帰還結合される、請求の範囲第1項〜6項いずれか1項記載の電子制御装置の検査方法。

IPC (4件)：

G01R 31/28 , G01R 31/00 , G05B 23/02 302 , G06F 11/22 330

FI (4件)：

G01R 31/28 H , G01R 31/00 , G05B 23/02 302 R , G06F 11/22 330 H

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開昭61-062880
特開昭61-128180
特開平1-161748

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審査官引用 (1件)

特開昭61-062880

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