特許
J-GLOBAL ID:200903044889066418

磁気ヘッドの動特性測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-105864
公開番号(公開出願番号):特開平11-288505
出願日: 1998年04月01日
公開日(公表日): 1999年10月19日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、低密度記録用ヘッドと高密度記録用ヘッドの動特性を機械的に同一条件で測定可能とする簡略化された構成の磁気ヘッドの動特性測定システムを提供する。【解決手段】 高密度記録用磁気ディスクに対応した高密度記録用磁気ヘッド(13)の動特性を測定する高密度動特性測定器(30H)と、低密度記録用磁気ディスクに対応した低密度記録用磁気ヘッド(14)の動特性を測定する低密度動特性測定器(30L)とを備える磁気ヘッド(10)の動特性測定システムである。本発明では、前記高密度動特性測定器および低密度動特性測定器で1つのスピンスタンド(20)を共通に使用する。
請求項(抜粋):
高密度記録用磁気ディスクに対応した高密度記録用磁気ヘッドの動特性を測定する高密度動特性測定器と、低密度記録用磁気ディスクに対応した低密度記録用磁気ヘッドの動特性を測定する低密度動特性測定器と、前記高密度動特性測定器および低密度動特性測定器に共通に接続されたスピンスタンドとを備えることを特徴とする磁気ヘッドの動特性測定システム。

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