特許

J-GLOBAL ID：200903044889338876

図式のテスト支援装置及びテスト支援方法

発明者： 大森 麻理
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-189648
公開番号（公開出願番号）：特開平10-040316
出願日： 1996年07月18日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：

【要約】【課題】 システムの動作を記述した状態遷移図等の図式は、その複雑さや規模に比例してこれをユーザが参照しつつ理解・テストする場合の困難さが増すという課題があった。【解決手段】 この図式のテスト支援装置は、状態遷移図における各遷移に対してユーザが任意の優先度3を設定する優先度設定手段4と、状態遷移図における全ての経路6を検出する検出手段7と、優先度設定手段4によって各遷移に設定された優先度に基づいて個々の経路の優先度を評価し、その優先度による各経路の順序づけを行う経路の順序づけ手段8と、状態遷移図の中から一部の経路を抽出するための任意の条件をユーザが指定するための抽出条件指示手段10と、経路の優先度に基づく順序づけ結果9に基づいて図式から抽出条件指示手段10の抽出条件を満足する経路を抽出する抽出手段11と、抽出手段11によって抽出さたれ経路を他の経路と差別化して表示する表示手段5とを有して構成される。

請求項（抜粋）：

図式を構成する要素に対して優先度を設定する優先度設定手段と、前記図式から互いに関連する要素の集合を検出する検出手段と、前記優先度設定手段によって前記各要素に設定された優先度に基づいて、前記検出手段によって検出された関連要素集合の優先度を評価する評価手段と、前記検出手段によって検出された関連要素集合の中から所定の関連要素集合を抽出するための所定の条件を指定する条件指定手段と、前記評価手段によって得られた前記各関連要素集合の優先度に基づいて、前記関連要素集合の中から前記所定の条件を満足する関連要素集合を抽出する抽出手段と、を具備することを特徴とする図式のテスト支援装置。

IPC (4件)：

G06F 19/00 ,  G06F 9/06 540 ,  G06F 11/28 340 ,  G06F 17/50

FI (5件)：

G06F 15/30 310 ,  G06F 9/06 540 U ,  G06F 11/28 340 A ,  G06F 15/60 636 J ,  G06F 15/60 672 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 編集装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-243107   出願人：株式会社東芝