特許
J-GLOBAL ID：200903044893842937
表示装置の欠陥修正方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴木 晴敏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-062074
公開番号（公開出願番号）：特開平9-230325
出願日： 1996年02月23日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：
【要約】【課題】 表示装置自体にダメージを与える事なく白点欠陥の画素を黒点化して修正を行なう。【解決手段】 アクティブマトリクス型の表示装置は所定の間隙を介して接合した一対の駆動基板1及び対向基板2とこの間隙に保持された液晶3とを備えたパネル構造を有する。駆動基板1側にはマトリクス状に配列した画素電極4及びこれを駆動するスイッチング素子5が形成されている。対向基板2側には液晶3を介して画素電極4に対面して画素を構成する対向電極7及び個々の画素に対応したマイクロレンズ8が形成されている。この表示装置の欠陥を修正する為、白点欠陥を有する欠陥画素に対応したマイクロレンズ8に対してエネルギービーム15を選択的に照射し、マイクロレンズ8を無能化して欠陥画素を正常画素に対して相対的に黒点化する。
請求項（抜粋）：
所定の間隔を介して接合した一対の基板と該間隙に保持された電気光学物質とを備えたパネル構造を有し、一方の基板側にはマトリクス状に配列した画素電極及びこれを駆動するスイッチング素子が形成され、他方の基板側には電気光学物質を介して画素電極に対面して画素を構成する対向電極及び個々の画素に対応したマイクロレンズが形成された表示装置の欠陥修正方法であって、白点欠陥を有する欠陥画素に対応したマイクロレンズに対してエネルギービームを選択的に照射し、該マイクロレンズを無能化して欠陥画素を正常画素に対して相対的に黒点化する事を特徴とする表示装置の欠陥修正方法。
IPC (4件)：
G02F 1/1335
, G02F 1/133 550
, G02F 1/136 500
, H01L 29/786
G02F 1/1335
, G02F 1/133 550
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 612 A
