特許
J-GLOBAL ID：200903044896537990
故障解析支援装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-265758
公開番号（公開出願番号）：特開平5-108356
出願日： 1991年10月15日
公開日（公表日）： 1993年04月30日
要約：
【要約】【構成】知識ベース107とサンプル別データを基に故障原因を推論する故障原因推論部104と、前記知識ベースおよび前記サンプル別データを基に故障原因推論部で推論された予想故障原因群のうち操作者に指定された予想故障原因群に対応した解析手順を推論する解析手順推論部105とよりなる。【効果】解析者の熟練度,解析に使用可能なサンプル数,故障原因に対する確信度等に応じて解析手順を選択できる。。
請求項（抜粋）：
品名,不具合内容等の初期情報,解析結果および推論結果等のサンプル別データを格納する解析データベースと、前記初期情報,解析結果および推論結果等を前記解析データベースに格納するデータ入力部と、故障原因および解析手順を推論するための知識を格納する知識ベースと、前記知識ベースと前記サンプル別データを基に故障原因を推論する故障原因推論部と、前記知識ベースおよび前記サンプル別データを基に故障原因推論部で推論された予想故障原因群のうち操作者に指定された予想故障原因群に対応した解析手順を推論する解析手順推論部と、故障原因の推論結果,解析手順等を画面または帳票等に出力する情報出力部と、前記知識ベースに対して知識の追加,修正等の処理を行う知識ベースメンテナンス部とを含むことを特徴とする電子部品故障解析支援装置。
IPC (4件)：
G06F 9/44 330
, G01R 31/00
, G06F 15/21
, G06F 11/22 360
