特許

J-GLOBAL ID：200903044917020763

餅試料の原料米の品種判別方法

発明者： 大坪 研一 ,  中村 澄子 ,  與座 宏一 ,  今村 太郎 ,  宍戸 功一
出願人/特許権者： 独立行政法人 食品総合研究所 ,  大坪 研一 ,  今村 太郎
代理人 (1件)： 久保田 藤郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-110930
公開番号（公開出願番号）：特開2002-306173
出願日： 2001年04月10日
公開日（公表日）： 2002年10月22日
要約：

【要約】【課題】 餅を試料として、その原料米購入経路の調査や餅の食味試験等の複雑な検査を必要とせずに、原料米の品種を正確に、かつ簡易迅速に判別する方法を提供すること。【解決手段】 餅から抽出、精製したDNAを鋳型とし、好適な対合プライマー存在下でPCR法によって鋳型DNAを増幅し、得られた増幅DNAの多型によって餅試料の原料米の品種を判別することを特徴とする餅試料の原料米の品種判別方法。

請求項（抜粋）：

餅から抽出、精製したDNAを鋳型とし、好適な対合プライマー存在下でPCR法によって鋳型DNAを増幅し、得られた増幅DNAの多型によって餅試料の原料米の品種を判別することを特徴とする餅試料の原料米の品種判別方法。

IPC (6件)：

C12N 15/09 ZNA ,  A23L 1/10 102 ,  C12Q 1/37 ,  C12Q 1/40 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 33/10

FI (6件)：

A23L 1/10 102 ,  C12Q 1/37 ,  C12Q 1/40 ,  C12Q 1/68 Z ,  G01N 33/10 ,  C12N 15/00 ZNA A

Fターム (22件)：

4B023LE23 ,  4B023LG04 ,  4B023LK17 ,  4B023LP20 ,  4B024AA07 ,  4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA03 ,  4B024HA11 ,  4B024HA20 ,  4B063QA12 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ16 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR15 ,  4B063QR16 ,  4B063QR32 ,  4B063QR62 ,  4B063QS14 ,  4B063QS16 ,  4B063QS20 ,  4B063QS25