特許
J-GLOBAL ID：200903044917699880
限界電流密度測定用試料電極および測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-033312
公開番号（公開出願番号）：特開平6-242052
出願日： 1993年02月23日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】 稼動状態のメッキ槽内にある被メッキ物のメッキ面における限界電流密度の測定が、正確にかつ容易に行えるようにすることを目的とする。【構成】 電極基板16上に作用電極1と参照電極2を形成し、端子1a,2aはソルダーレジスト17で保護しておく。そして、銅をメッキした参照電極2の電位を基準とし、同様に銅をメッキした作用電極1の電位を測定し、この電位を自然分極電位より卑な電位へ電位走査することにより、限界電流密度を測定する。
請求項（抜粋）：
電解液中で被電解物質の電解還元または酸化を行う作用電極と、前記作用電極と同一面上に離れて形成され、前記作用電極における電解反応による電位を測定するときの基準となる参照電極とを有することを特徴とする限界電流密度測定用試料電極。
IPC (4件)：
G01N 27/26
, C25D 7/00
, C25D 21/12
, G01N 27/416
