特許

J-GLOBAL ID：200903044918074271

質量分析計多重極装置

発明者： ロバート・ケイ・クロフォード ,  ジェイムス・エル・バーチュ
出願人/特許権者： アジレント・テクノロジーズ・インク
代理人 (3件)： 古谷 聡 ,  溝部 孝彦 ,  西山 清春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-283303
公開番号（公開出願番号）：特開2006-108091
出願日： 2005年09月29日
公開日（公表日）： 2006年04月20日
要約：

【課題】著しいイオン損失か又は電力損失を生じさせることなく、イオンを効率よく輸送する、質量分析計システムのための多重極装置を提供する。【解決手段】本発明は、質量分析計システムのための多重極装置を提供する。一般に、多重極装置は、複数の導電性ロッドを含む。該複数の導電性ロッドは、導電層と、抵抗層と、該導電層と該抵抗層との間の絶縁層とを含む。本発明は、イオン輸送、イオン断片化、及びイオン質量フィルタリングを含む様々な用途において使いみちを見いだせる。従って、本発明を様々な質量分析計システムにおいて用いることができる。【選択図】図4A

請求項（抜粋）：

質量分析システムの均一な高周波(RF)電界内の軸上において、イオンを閉じ込め且つ輸送するための多重極装置であって、 複数のロッドであって、該複数のロッドの各々が、 導電層と、 抵抗層と、 前記導電層と前記抵抗層との間に配置された絶縁層 とを含む、複数のロッドを備え、 前記ロッドは、均一なRF電界内の軸上において、イオンを閉じ込め且つ輸送することからなる、多重極装置。

IPC (3件)：

H01J 49/06 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (3件)：

H01J49/06 ,  G01N27/62 E ,  H01J49/26

Fターム (12件)：

2G041CA01 ,  2G041DA04 ,  2G041DA09 ,  2G041DA14 ,  2G041DA18 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA28 ,  5C038FF13 ,  5C038JJ06