特許
J-GLOBAL ID：200903044932371750
距離測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-071544
公開番号（公開出願番号）：特開平6-281726
出願日： 1993年03月30日
公開日（公表日）： 1994年10月07日
要約：
【要約】【目的】 測距対象物へ送光し、対象物からの反射光を受光し、この送光と受光の間の時間から距離を求める装置の、前記送光方向が対象物に正確に向くようにするための光軸調節を容易にし、しかも前記送光が通過する前面カバーの汚れを検知すること。【構成】 測距用送光手段1、2、5と、この手段からの光の、対象物からの反射光を受光する受光手段3、4、6と、前記測距用送光手段の近傍に配置された可視光送出手段8、20とが設けられている。また可視光送出手段の近傍には前面カバー11からの散乱光を受ける汚れ検知用受光手段10、13が配置されている。
請求項（抜粋）：
測距対象物へ向けて測距用の光を発する測距用送光手段と、この測距用送光手段からの光の前記測距対象物からの反射光を受ける受光手段とが備えられ、前記測距用送光手段の前方には光を通す部分を有する前面カバーが配され、前記測距用送光手段からの送光時刻と前記受光手段での受光時刻とにより測距対象物までの距離を測定する距離測定装置において、前記測距用送光手段の近傍に前方へ可視光を送出する可視光送出手段が配されてなる距離測定装置。
IPC (2件)：
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