特許
J-GLOBAL ID：200903044933758624
半田付状態のX線検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-308801
公開番号（公開出願番号）：特開平5-145226
出願日： 1991年11月25日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：
【要約】【目的】 半田の鮮明な透過画像を入手できるX線検査装置を提供する。【構成】 X線源5と、電子部品Pが半田付けされた基板10を位置決めする位置決め部2と、この位置決め部2に位置決めされた基板10の角度を変える角度調整手段31,32,33と、X線源5から基板10に照射されるX線の強度を制御する制御部13とから半田付状態のX線検査装置を構成した。
請求項（抜粋）：
X線源と、電子部品が半田付けされた基板を位置決めする位置決め部と、この位置決め部に位置決めされた基板の角度を変える角度調整手段と、上記X線源から上記基板に照射されるX線の強度を制御する制御部とから成ることを特徴とする半田付状態のX線検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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