特許

J-GLOBAL ID：200903044959006647

プリント回路基板テスタ

発明者： プロコップ,マンフレッド
出願人/特許権者： アーテーゲー テスト システムス ゲーエムベーハー アンド コ カーゲー
代理人 (1件)： 岡部 正夫 (外10名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-580011
公開番号（公開出願番号）：特表2002-529708
出願日： 1999年04月16日
公開日（公表日）： 2002年09月10日
要約：

【要約】本発明は、プリント回路基板テスタ、さらに詳しくいうと、大型、非コンポーネント回路基板のテストを行うプリント回路基板テスタに関するものであり、各ケースにおけるいくつかのコンタクトポイントが直線走査チャネルに電気的接続を行う、所定のパターンに配列された該コンタクトポイントを備えたグリッドパターンと、グリッドパターンに取付けられたアダプタかつ/もしくはトランスレータと、該走査チャネル経由で該コンタクトポイントに電気的接続を行う電子アナライザと、該アダプタかつ/もしくは該トランスレータが該グリッドパターンの該コンタクトポイントに対して該回路基板の該回路基板テストポイントの電気的接点を作り出すように該アダプタかつ/もしくは該トランスレータの適用がなされる、テストされる回路基板とから構成され、少なくとも2つの走査チャネルに電気的に接続する手段を備えていることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

プリント回路基板テスタ、さらに詳しくいうと大型、非コンポーネント回路基板のテストを行うプリント回路基板テスタであって、該テスタは、 所定のパターンで配列されたコンタクトポイント(4)を備えるグリッドパターン(3)を備え、各ケースのいくつかのコンタクトポイント(4)は直線走査チャネル(9)に電気的に接続されており、アダプタ及び/又はトランスレータはグリッドパターンに載置されており、該テスタは、 該走査チャネル(9)を介して該コンタクトポイント(4)に電気的に接続される電子アナライザと、 該アダプタ及び/又は該トランスレータが該回路基板上の該回路基板のテストポイントの電気的接点を該グリッドパターンの該コンタクトポイント(4)に生成するように該アダプタ及び/又はトランスレータが適用できる、テストされるべき回路基板とを備えるテスタにおいて、 複数の走査チャネル(9)を電気的に接続された走査チャネル(9)のグループに電気的に接続する手段を備え、1つのグループの走査チャネルは電子アナライザの1つのテストポイントにのみ接続されることを特徴とするプリント回路基板テスタ。

IPC (2件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/28

FI (3件)：

G01R 31/02 ,  G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 S

Fターム (9件)：

2G014AA32 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09 ,  2G132AA00 ,  2G132AA20 ,  2G132AE11 ,  2G132AJ01 ,  2G132AJ05 ,  2G132AL05