特許

J-GLOBAL ID：200903045074320774

自動化学分析装置

発明者： 松本 順一
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-149658
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015273
出願日： 1994年06月30日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】本発明は、試料サンプリング機構の試料針のつまりを検出する手段を付加した自動化学分析装置を提供することを目的とする。【構成】試料保持流路の中途部に光学検知装置を介設し、当該光学検知装置は希釈防止用に試料保持流路に吸引する空気層の長さを検出することにより、試料針のつまりを検知する。

請求項（抜粋）：

反応容器に試料を分注する試料サンプリング機構と、前記反応容器に試薬を注入する試薬注入機構と、反応容器中の試料と試薬の混合液の吸光度を測定する吸光光度計を少なくとも備え、前記試料サンプリング機構は計量シリンジと、試料針中の流路を含み試料針と計量シリンジを連結する試料保持流路からなり、かつ、試料保持流路に残留する洗浄液による新規試料液の希釈を避けるため新規試料液吸引の前に微量の空気を吸引した後、試料液を計量吸引する機構を備えた自動化学分析装置において、試料保持流路の中途部に光学検知装置を介設し、当該光学検知装置は希釈防止用に試料保持流路に吸引する空気層の長さを検出することにより、試料針のつまりを検知することを特徴とする自動化学分析装置。