特許
J-GLOBAL ID：200903045135127930
蛍光計測方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-199927
公開番号（公開出願番号）：特開2001-027606
出願日： 1999年07月14日
公開日（公表日）： 2001年01月30日
要約：
【要約】【課題】 蛍光計測装置において、微小なゴミやほこりが光学系に付着したり光路に侵入することを防止することにより、信頼性の高い診断情報を得ることができるようにする。【解決手段】 励起光源10から発生した励起光Leを光Aファイバ20、光分離ユニット300および光Bファイバ40を経由して光ファイバコネクタ50によって接続された先端光ファイバ60の端部Soから試料100に向けて照射し、この励起光Leの照射により試料100から発生した蛍光やラマン光等の再放射光Shを再び先端光ファイバ60の端部Soから入射させ先端光ファイバ60、光Bファイバ40および光分離ユニット300を経由して光Cファイバ70の端部Coに接続された分光測光器80に導き、この分光測光器80により再放射光Shを測光する。光分離ユニット300は密封容器200に収容され、さらに光ファイバコネクタ50とともにアースされる。
請求項（抜粋）：
励起光が照射された試料から発せられ、光ファイバおよび光学系を経由して射出された蛍光やラマン光等の再放射光を測光する蛍光計測方法において、前記光学系を、該光学系にほこりが付着しないようにアースすることを特徴とする蛍光計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/64 Z
, G01N 21/65
2G043AA01
, 2G043DA08
, 2G043EA01
, 2G043EA03
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043GB03
, 2G043GB08
, 2G043GB11
, 2G043HA01
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043LA01
, 2G043MA01
, 2G043MA06
