特許
J-GLOBAL ID：200903045238444445
鋼板の欠陥有害度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-007214
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196581
出願日： 1992年01月20日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：
【要約】【目的】 鋼板の内部又は表面に発生する欠陥を、欠陥種類も含めて正確に把握できると共に、この鋼板が製品になった場合における該当欠陥の許容限界を定量的に把握する。【構成】 移動位置検出器3からのトラッキング情報に基づいて、磁気センサを利用した磁気探傷装置1から得られる欠陥規模Kと欠陥深さd、およびレーザ光線を利用した表面欠陥検査装置2から得られる同一位置における欠陥面積Sと欠陥種類Cとの同期を取り、これらの各検出値K,d,S,Cから鋼板10の各位置における欠陥の有害度Hを算出している。H=F(K,d,S,C)
請求項（抜粋）：
鋼板の走行路を挟んでこの走行路を走行する金属帯の上面および下面にそれぞれ接することによって回転する一対の中空ロールを配設し、一方の中空ロール内に前記鋼板内に磁界を発生させる磁化器を配設し、前記各中空ロール内に前記鋼板の欠陥に起因して生じる漏洩磁束をそれぞれ検出する磁気センサを配設し、前記一対の磁気センサで検出された各漏洩磁束値から前記欠陥の前記鋼板の厚み方向の欠陥深さと欠陥規模を算出する磁気探傷装置と、前記鋼板の表面にレーザ光線を照射して、前記鋼板の表面欠陥に起因する前記レーザ光線の散乱光を受光素子で検出し、この検出された散乱光の光強度から前記表面欠陥の二次元形状を特定し、この二次元的形状から前記表面欠陥の面積を算出し、かつ前記二次元形状内の光強度から前記表面欠陥の種類を特定する表面欠陥検査装置と、前記鋼板の移動位置を検出し、前記磁気探傷装置における探傷位置と前記表面欠陥検査装置における検査位置との同期を取るためのトラッキング情報を出力する移動位置検出器と、前記移動位置検出器から出力されたトラッキング情報と、前記磁気探傷装置から出力された欠陥深さおよび欠陥規模と、前記表面欠陥検査装置から出力された欠陥面積および欠陥種類とから、前記鋼板の各位置における欠陥有害度を算出する欠陥有害度算出部とを備えた鋼板の欠陥有害度測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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