特許

J-GLOBAL ID：200903045276960910

光デイスク

発明者： 石井 義伸 ,  有宗 久雄
出願人/特許権者： 京セラ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-219855
公開番号（公開出願番号）：特開平5-062242
出願日： 1991年08月30日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】【目的】 従来では全く不可能であった半導体レーザー等による反射光や透過光で保護コート層のコート不良を自動判別できるような光ディスクを提供すること。【構成】 基板の一主面に反射層、保護コート層を順次積層した光ディスクにおいて、前記保護コート層に光散乱剤を混入させて、前記反射層に光を反射させて得られた光量から前記保護コート層の表面状態を検査できるようにした光ディスクにより、保護コート層の吸収係数を従来より大幅に向上させることができる、半導体レーザ等による反射光や透過光で自動判別することが容易となる。

請求項（抜粋）：

基板の一主面側に反射層、保護コート層を順次積層した光ディスクにおいて、前記保護コート層に光散乱剤を混入させて、前記反射層に光を反射もしくは透過させて得られた光量から前記保護コート層の表面状態を検査可能としたことを特徴とする光ディスク。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭60-256933
  
• 特開平2-101651
  
• 特開昭57-150152