特許
J-GLOBAL ID:200903045285860260
効率的な二重エネルギーX線減衰測定
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
伊東 忠彦
, 大貫 進介
, 伊東 忠重
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-502268
公開番号(公開出願番号):特表2009-531108
出願日: 2007年03月14日
公開日(公表日): 2009年09月03日
要約:
被写体の二重エネルギーX線減衰データを測定する方法及びCTシステムが記載される。CTシステムは、回転可能支持体、2つの異なるX線焦点を有するX線源、及び異なるスペクトル感度を示す複数の検出素子を有するX線検出装置、を有する。方法は、(a)第1の焦点から生じるX線を放射するようX線源を調整する段階、(b)第1の検出素子及び第2の検出素子で別個に第1の減衰データを取得する段階、(c)X線焦点を第2の焦点へ離散的に移動させる段階、(d)2種類の検出素子で別個に第2の減衰データを取得する段階、を有する。第1の焦点から生じる第1のビーム経路が被写体内の特定のボクセルを貫通し第1の検出素子に衝突するよう、及び第2のX線焦点から生じる第2のビーム経路が当該特定のボクセルを貫通し第2の検出素子に衝突するよう、2つの焦点は互いに空間的に離れている。
請求項(抜粋):
コンピューター断層撮像システムを用い検査中の被写体の二重エネルギーX線減衰データを測定する方法であって、前記コンピューター断層撮像システムは、
-回転軸の周りを回転可能な回転可能支持体、
-第1のX線焦点と第2のX線焦点とを有し、前記回転可能支持体に取り付けられたX線源、及び
-複数の検出素子を有するX線検出装置、を有し、
前記検出素子は第1のグループの第1の検出素子と第2のグループの第2の検出素子とに分けられ、前記第1及び第2の検出素子は異なるスペクトル感度を示し、
前記X線検出装置は、前記回転軸に関し前記X線源と反対側に前記回転可能支持体に取り付けられ、
前記方法は:
前記第1のX線焦点から生じるX線を放射するよう前記X線源を調整する段階、
前記第1の検出素子及び前記第2の検出素子で別個に第1のX線減衰データを取得する段階、
前記第1のX線焦点から前記第2のX線焦点へX線焦点を移動する段階、及び
前記第1の検出素子及び前記第2の検出素子で別個に第2のX線減衰データを取得する段階、を有し、
前記第1のX線焦点から生じる第1のビーム経路が前記被写体内の特定のボクセルを貫通し第1の検出素子に衝突し、前記第2のX線焦点から生じる第2のビーム経路が前記ボクセルを貫通し第2の検出素子に衝突するよう、前記2つのX線焦点は互いに空間的に離れており、及び
前記X線焦点は前記第1のX線焦点から前記第2のX線焦点へ離散的方法で移動される、方法。
IPC (1件):
FI (4件):
A61B6/03 373
, A61B6/03 320M
, A61B6/03 320D
, A61B6/03 321P
Fターム (5件):
4C093CA39
, 4C093EA04
, 4C093EA07
, 4C093FA15
, 4C093FA17
引用特許:
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