特許

J-GLOBAL ID：200903045314382853

電子部品検査装置

発明者： 山内 威
出願人/特許権者： 日本ガーター株式会社
代理人 (6件)： 熊倉 禎男 ,  大塚 文昭 ,  宍戸 嘉一 ,  村社 厚夫 ,  弟子丸 健 ,  井野 砂里
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-123078
公開番号（公開出願番号）：特開2005-306523
出願日： 2004年04月19日
公開日（公表日）： 2005年11月04日
要約：

【課題】 電子部品を前記電子部品整列送り装置から前記回転テーブルの前記吸着チャックへ運ぶための、吸着ノズルのより高速な往復動作を可能にする電子部品移載装置を提供する。【解決手段】 電子部品検査装置は、吸着ノズル(28)を、その垂直姿勢を維持しながら、部品整列送り装置(11)と回転テーブル(13)の吸着チャック(12)との間で円弧軌道を描いて往復動させる電子部品移載装置(15)を有する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電子部品整列送り装置と、円周上に等間隔に取り付けられた吸着チャックを備え、且つ隣接した吸着チャック間の角度間欠的に回転される回転テーブルと、電子部品を前記電子部品整列送り装置から前記回転テーブルの前記吸着チャックへ運ぶための、吸着ノズルを含む電子部品移載装置と、を有し、前記電子部品移載装置は、前記吸着ノズルを、その垂直姿勢を維持しながら、部品整列送り装置と回転テーブルの吸着チャックとの間で円弧軌道を描いて往復動させる装置を有する、電子部品検査装置。

IPC (3件)：

B65G47/91 ,  B65G47/86 ,  B65G47/88

FI (3件)：

B65G47/91 B ,  B65G47/86 G ,  B65G47/88 D

Fターム (19件)：

3F017CA02 ,  3F017EA08 ,  3F017FA01 ,  3F017FA05 ,  3F017FB01 ,  3F017FE03 ,  3F072AA14 ,  3F072GB06 ,  3F072GB10 ,  3F072GE02 ,  3F072GE03 ,  3F072GE05 ,  3F072GG12 ,  3F072KC01 ,  3F072KC05 ,  3F072KC07 ,  3F072KD03 ,  3F072KD23 ,  3F072KD28