特許
J-GLOBAL ID：200903045350410693
マイクロスプレーカラムと質量分析計及び質量分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡邊 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-347005
公開番号（公開出願番号）：特開2003-151486
出願日： 2001年11月13日
公開日（公表日）： 2003年05月23日
要約：
【要約】【課題】 イオン化効率を向上させることができるマイクロスプレーカラム及びこのマイクロスプレーカラムを用いた高感度の質量分析計及び質量分析方法を提供すること。【解決手段】 試料分子をエレクトロスプレーイオン化してアナライザーに導く構成の質量分析計(ESI/MS)のイオン源における試料導入用のカラムであって、(1)カラム1の先端開口部1bの内口径D1が0.5μm以下であること。(2)カラム充填剤2の粒径D2が0.5μmより大きく5μm以下であること。(3)フリットレスであること。以上(1)〜(3)を具備するマイクロスプレーカラム、該マイクロスプレーカラムをイオン源に備える質量分析計並びに前記マイクロスプレーカラムによってナノフローエレクトロスプレーを行うことができる質量分析方法を提供する。
請求項（抜粋）：
試料分子をエレクトロスプレーイオン化してアナライザーに導く構成の質量分析計(ESI/MS)のイオン源における試料導入用のカラムであって、次の(1)〜(3)の構成を備えるマイクロスプレーカラム。(1)カラムの先端開口部内口径が0.5μm以下であること。(2)カラム充填剤の粒径が0.5μmより大きく5μm以下であること。(3)フリットレスであること。
IPC (2件)：
FI (4件)：
H01J 49/04
, G01N 27/62 F
, G01N 27/62 G
, G01N 27/62 X
