特許
J-GLOBAL ID:200903045366859763

X線マスク材料及びそれを用いたX線マスク

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 静男 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-245090
公開番号(公開出願番号):特開平6-097052
出願日: 1992年09月14日
公開日(公表日): 1994年04月08日
要約:
【要約】【目的】 特定波長の位置検知光に対して高い透過率を有するX線マスク材料の提供を目的とする。【構成】 基板上にX線透過膜を有するX線マスク材料において、前記X線透過膜の膜厚t1 を、t1 =m1 λ/(2n1 )(ただし、n1 はX線透過膜の波長λにおける屈折率、m1 は正の正数、λはアライメント検知光の波長である)に設定したX線マスク材料。
請求項(抜粋):
基板と、該基板上に設けたX線透過膜を含むX線マスク材料であって、前記X線透過膜の膜厚t1 を、t1 =m1 λ/(2n1 )(ただし、n1 はX線透過膜の波長λにおける屈折率、m1 は正の整数、λはアライメント検知光の波長である)に設定することを特徴とするX線マスク材料。
IPC (2件):
H01L 21/027 ,  G03F 1/16

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