特許

J-GLOBAL ID：200903045392050174

2軸式傾斜測定装置

発明者： ヴイルフリート ピスケ
出願人/特許権者： ライカ ヘールブルツグ アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 伊藤 武久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-074430
公開番号（公開出願番号）：特開平5-099666
出願日： 1992年03月30日
公開日（公表日）： 1993年04月23日
要約：

【要約】【目的】2軸方向での測定が可能であり、測定精度に優れ、測定範囲が広くなるようにする。【構成】幾何学模様(12)が少なくとも一つの角形模様部(13;22)を有する。角形模様部(13;22)の、結像される辺(15;16)は、リニアアレイ(8)と2点で交わる。

請求項（抜粋）：

幾何学模様を備えた担持体を照明し、幾何学模様を、傾斜を検知し光線を偏向させるセンサを介してリニアアレイに結像させる光源を備えた、互いに垂直な二つの方向で傾斜または傾斜の変化を測定するための傾斜測定装置において、幾何学模様(12)が少なくとも一つの角形模様部(13;22)を有し、該角形模様部(13;22)の、結像される辺(15;16)が、リニアアレイ(8)と2点で交わることを特徴とする2軸式傾斜測定装置。

IPC (3件)：

G01C 9/06 ,  G01C 9/12 ,  G01C 9/20