特許
J-GLOBAL ID：200903045401959261
発光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-340842
公開番号（公開出願番号）：特開平7-159324
出願日： 1993年12月08日
公開日（公表日）： 1995年06月23日
要約：
【要約】【目的】 温度調節を行なわずに、輝線ピークと出口スリットとの位置ズレを補正できるようにする。【構成】 平行透明板30の角度を変化させつつ、いずれかの出口スリット17aを通過する光の強度を測定し、ピーク強度の位置を検出する。そのピーク位置で平行透明板30を固定し、以後、本測定を行なう。
請求項（抜粋）：
入口スリットを通過した試料からの輝線を含む光を分散素子で分光し、単数又は複数の所定位置に置かれた出口スリットを通過する特定波長の光の強度を測定することにより試料の分析を行なう発光分析装置において、a)入口スリットと分散素子との間の入射光路に設けられた平行透明板と、b)平行透明板の角度を入射光軸に対して変化させる平行透明板回転手段と、c)平行透明板の角度を変化させつついずれかの出口スリットを通過する光の強度を測定し、ピーク強度の位置を検出して、そのピーク位置で平行透明板を固定する補正手段とを備えることを特徴とする発光分析装置。
IPC (2件)：
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