プロセス制御ループパラメータの推定値の統計的に決定する方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：角田嘉宏
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-516031
公開番号（公開出願番号）：特表2003-506786
出願日： 2000年08月09日
公開日（公表日）： 2003年02月18日
要約：

【要約】本方法及び装置は、プロセス制御環境内のデバイス又は制御ループに関連する、軸受摩擦、シール摩擦、総合摩擦、不感帯、不動差時間、オシレーション、軸ワインドアップ、又は、バックラッシュ等のような、一つもしくはそれ以上のプロセス制御ループパラメータの推定値を統計的に決定する。前記方法及び装置は、プロセス制御ループが、プロセス制御環境内で、オンライン方式で接続されている時、該プロセス制御ループ内の一つもしくはそれ以上の信号を測定し、該測定された信号を信号データとして格納し、そして、それから、前記所望のパラメータを決定するため、該格納された信号データに、多くの統計解析の一つを実行する。

請求項（抜粋）：

プロセス制御ループがプロセス制御環境内でオンライン方式で接続されているとき、該プロセス制御ループ内の信号を測定するステップと、該測定した信号を信号データとして格納するステップと、パラメータの推定値を決定するために、該格納した信号データに統計解析を実行するステップとを含むプロセス制御ループに関連したパラメータの推定値を決定する方法。

IPC (2件)：

G05B 13/02 , G05B 23/02

FI (2件)：

G05B 13/02 D , G05B 23/02 R

Fターム (18件)：

5H004GA27 , 5H004GA28 , 5H004GB01 , 5H004HA03 , 5H004HA07 , 5H004HB03 , 5H004HB07 , 5H004HB14 , 5H004MA36 , 5H004MA41 , 5H223AA01 , 5H223BB01 , 5H223CC08 , 5H223DD03 , 5H223EE02 , 5H223EE05 , 5H223EE29 , 5H223EE30

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開平1-153881
特開平1-153881
特開平3-245018

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