特許
J-GLOBAL ID:200903045417805523
二次元電磁波放射強度測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
草野 卓 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-278764
公開番号(公開出願番号):特開平6-130102
出願日: 1992年10月16日
公開日(公表日): 1994年05月13日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 電子機器のある平面における電磁波二次元的な発生位置を直観的に知ること。【構成】 測定表示素子21が測定面に行列に配列されている。クロック発生器45よりのクロックがカウンタ46で計数されこの計数値がデコーダ47でデコードされ、そのデコード出力によってスイッチSX1乃至SXnが順次オンとされ、そのスイッチSX1乃至SXnを一回オンにするごとにスイッチSY1乃至SYnが順次オンとされ、一つの素子21が順次定電流源31に接続される。定電流源31に接続された素子21のアンテナより電磁波が受信されると、その出力がスペクトラム選択増幅器33で設定した周波数或いは周波数掃引局部発振器51の周波数掃引にもとずく掃引周波数が受信され、その出力が検波回路41で検波され、その検波出力はピークホールド回路42でピークホールドされる。
請求項(抜粋):
微小面を通過する電磁波の強度を受信するアンテナ及びその受信出力の強度に応じて発光する発光素子の直列回路よりなる測定表示素子の複数個がマトリックス状に配置された測定素子群と、上記測定表示素子を一つずつ順次選択する選択スイッチと、その選択スイッチによって選択された測定表示素子に対して電流を流す共通の電流源と、上記選択された測定表示素子のアンテナに誘起された電圧が共通に入力されるスペクトラム選択増幅器と、そのスペクトラム選択増幅器の出力を検波する検波回路と、その検波回路の出力に応じて上記選択された測定表示素子の発光素子の発光の明るさを制御する手段と、を具備する二次元電磁波放射強度測定装置。
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