特許

J-GLOBAL ID：200903045488644954

電気接続部の接続確認試験装置と電気接続部の接続確認試験方法

発明者： 松波 敬祐
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 岡▲崎▼ 信太郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-214314
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046891
出願日： 1998年07月29日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】 非常に高速で多くの電気的接続部分の電気的接続確認検査を安価に行うことができる電気接続部の接続確認試験装置を提供すること。【解決手段】 光を射出する光源12と、光源12の光を2次元走査する走査部14と、走査されている光の内の1つの偏光方向の偏光成分を通す偏光子16と、電子部品62に接触または非接触で配置されて、対象物60側に印加される電圧による電界強度に比例した位相変化分LPを、偏光子16からの偏光成分L2に対して付加する電気光学素子20と、電気光学素子20から反射した偏光成分L2から位相変化分を得るための検光子18と、検光子18からの位相変化分を受光して信号にする受光部44と、受光部44からの位相変化分の信号をデジタル化した後に、位相変化分の信号に基づいて対象物の電気配線部63と電子部品の電気接続部64の接続状態を画像形成する画像処理部26と、を備える。

請求項（抜粋）：

対象物の電気配線部に電子部品の電気接続部が接続された状態で、電子部品側から対象物の電気配線部と電子部品の電気接続部との接続を、確認するための電気接続部の接続確認試験装置であり、光を射出する光源と、光源の光を2次元走査する走査部と、走査されている光の内の1つの偏光成分を通す偏光子と、電子部品に接触または非接触で配置されて、偏光子から偏光成分が与えられると対象物側に印加される電圧による電界強度に比例した位相変化分を、偏光子からの偏光成分に対して付加する電気光学素子と、電気光学素子から反射した偏光成分から位相変化分を得るための検光子と、検光子からの位相変化分を受光して信号にする受光部と、受光部からの位相変化分の信号をデジタル化した後に、位相変化分の信号に基づいて対象物の電気配線部と電子部品の電気接続部の接続状態を画像形成する画像処理部と、を備えることを特徴とする電気接続部の接続確認試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/04 ,  G01N 21/88 ,  G01R 31/302

FI (3件)：

G01R 31/04 ,  G01N 21/88 F ,  G01R 31/28 L

Fターム (26件)：

2G014AA01 ,  2G014AA02 ,  2G014AA03 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G032AD08 ,  2G032AF01 ,  2G032AF07 ,  2G032AK03 ,  2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051BA10 ,  2G051BA11 ,  2G051BC06 ,  2G051CA02 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051EA08 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051EC03 ,  2G051EC06 ,  2G051FA02