特許

J-GLOBAL ID：200903045604973197

電子回路の特性値測定方法

発明者： 福島 義文
出願人/特許権者： 松下電子工業株式会社
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-189514
公開番号（公開出願番号）：特開平7-043407
出願日： 1993年07月30日
公開日（公表日）： 1995年02月14日
要約：

【要約】【目的】 多数の電子回路の特性値を効率よく測定する。【構成】 二分探索法の適用に際して、その測定対象を、複数の電子回路の特性値の取り得る範囲(特性値予測範囲)を持つ電子回路の集合体101として捉え、二分探索法による測定を、比較判定手段104によって、当該集合体に属する個々の電子回路について同一の比較基準値(特性値予測範囲内にある決められた値)を用いて行い、比較基準値との比較判定の結果に基づいて、当該集合体に属する複数の電子回路を、測定対象記憶手段106によって、それぞれ異なる特性値予測範囲を持つ二つの集合体に分離、記憶し、然る後、各分離された集合体に属する電子回路に対して、同様の方法で二分探索法による測定を繰り返し、各集合体における特性値予測範囲が一定の値以下に収束した時点で、各集合体に属する電子回路の特性値を、特性値予測範囲にある一定の値として定める。

請求項（抜粋）：

複数の電子回路の特性値を二分探索法を用いて測定する方法であって、前記複数の電子回路の特性値の取り得る最大値および最小値を範囲とする特性値予測範囲を設定する第1の工程と、前記特性値予測範囲に属する複数の電子回路に対して、前記特性値予測範囲内にある一定の比較基準値を用いて、各電子回路の特性値について二分探索法により比較判定を行う第2の工程と、前記比較判定を行った結果に基づき、前記複数の電子回路を、前記比較基準値よりも大きい特性値を持つ電子回路よりなる第1の集合体と、前記比較基準値よりも小さい特性値を持つ電子回路よりなる第2の集合体に分離する第3の工程と、前記第1の集合体に属する電子回路に対して、前記比較基準値を最小値とするとともに前回の比較判定時の前記特性値予測範囲の最大値を今回の比較判定時の最大値とする特性値予測範囲を設定し、前記第2の集合体に属する電子回路に対して、前記比較基準値を最大値とするとともに前回の比較判定時の前記特性値予測範囲の最小値を今回の比較判定時の最小値とする特性予測範囲を設定する第4の工程とからなり、前記第1および第2の集合体にそれぞれ属する電子回路に対して、前記第2,第3,第4の工程を前記特性値予測範囲が一定の値以下に収束するまで繰り返し、該収束時における前記特性値予測範囲内の所定の値をもって、前記第1の集合体および第2の集合体にそれぞれ属する電子回路の特性値とすることを特徴とする電子回路の特性値測定方法。