特許
J-GLOBAL ID：200903045657443580
分析素子、並びにそれを用いた試料の分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
真田 有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-167166
公開番号（公開出願番号）：特開2002-357543
出願日： 2001年06月01日
公開日（公表日）： 2002年12月13日
要約：
【要約】【課題】 表面プラズモン共鳴(SPR)を利用した試料分析のための分析素子に関し、エバネッセント波を誘起する光学構造として回折格子の構造制御及び試料と接触する表面の性状制御を容易にする。【解決手段】 基板2に支持された平面上に薄膜4を離散的に積層することによって回折格子5を形成し、上記の平面を与える層3と上記薄膜4の何れかを金属膜とする。
請求項（抜粋）：
表面が平面状の第一層と、上記第一層上に離散的に積層されて回折格子を形成する第二層とを備え、上記第一層及び第二層の少なくとも一方は金属膜であることを特徴とする、分析素子。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (12件)：
2G059AA01
, 2G059BB13
, 2G059CC20
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE04
, 2G059FF03
, 2G059JJ30
, 2G059KK04
, 2H049AA07
, 2H049AA55
, 2H049AA64
