特許
J-GLOBAL ID：200903045683653046
相対姿勢測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-105795
公開番号（公開出願番号）：特開平6-317416
出願日： 1993年05月07日
公開日（公表日）： 1994年11月15日
要約：
【要約】【目的】妨害光があっても目標物と測定部との相対姿勢を精度よく測定する。【構成】測定部4の光学系11は、太陽3からの妨害光P2と、目標物1に配置したリフレクタ2からのレーザ反射光H2を受ける。光学系11,ハーフミラー12および14を通った光P2およびH2は、バンドパスフィルタ15aおよび15bをそれぞれ介し、一方はレーザ光H1の波長付近のみが撮像素子16aに供給され、他方は妨害光P1の波長付近のみが撮像素子16bに供給される。撮像素子16aは妨害光P3および反射光H3に対応し,同じ特性の撮像素子16bは妨害光P4にのみ対応する2次元像をそれぞれ結像する。比較器18は、撮像素子16aおよび16bの出力S3および出力S4を対応する座標の画素ごとに比較し、出力S3が2次元像の存在を示すときの画素のみを目標物1の2次元像とする。角度演算回路19は出力S4をもとに相対姿勢を計算する。
請求項（抜粋）：
第1の波長の出射光を生じる光源回路と、前記出射光を第1の光端子に受けて光入出力端子から空間に放射し入射光を前記光入出力端子に受けてこの入射光のうちの前記第1の波長付近の入射光を第2の光端子に生じるとともに前記入射光のうちの前記第1の波長とは互いに波長の異なる第2の波長付近の入射光を第3の光端子に生じる光学回路と、前記第2の光端子から前記第1の波長付近の入射光を受けてこの入射光の2次元像に対応するとともに複数の画素からなる第1の電気信号を生じる第1の撮像素子と、前記第3の光端子から前記第2の波長付近の入射光を受けてこの入射光の2次元像に対応するとともに複数の画素からなる第2の電気信号を生じる前記第1の撮像素子とほぼ同じ特性の第2の撮像素子と、前記第1の電気信号と前記第2の電気信号とを前記2次元像の対応する座標の画素ごとに比較し前記第1の電気信号が前記2次元像の存在を示すとともに前記第2の電気信号が前記2次元像の存在を示さない画素の集合を第3の電気信号とする比較器と、前記第3の電気信号の示す2次元像の中心を計算しこの2次元像の中心と前記第1の撮像素子および前記第2の撮像素子のいずれかの視野中心との相対姿勢を計算する角度演算回路とを備えることを特徴とする相対姿勢測定装置。
IPC (5件)：
G01B 11/26
, B64G 1/36
, G01C 1/00
, G01C 15/00
, G01S 17/06
