特許
J-GLOBAL ID：200903045702998157
半透明物体の表面特徴を検出する方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外6名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-515281
公開番号（公開出願番号）：特表平9-512342
出願日： 1995年09月06日
公開日（公表日）： 1997年12月09日
要約：
【要約】皮付きの柑橘系果物のような半透明物体のトポグラフィ的な表面特徴が走査されそして評価されて、その表面特徴に基づいて分類を行うことができる。柑橘系果物の場合には、皮の目の粗さ又は石目状態、膨らみ及び皺、出っ張り及び谷、切れ目、破損、かき傷、割れ、明確な腐敗又は酸っぱい腐敗が、ピクセル走査のデジタル分析により光学的に識別され、そして皮の表面の質に基づいて選別される。物体は、果物の走査された像を背景像から分離しそして背景像を除去することにより分類される。物体の両半球を含む全体としての物体像の統計学的な評価が行われて、欠陥とみなされるか又は分類判断を行い得る適当な基礎となるような表面特徴変化が存在するかどうか決定される。もしそうであれば、物体像は、高周波数フィルタ又はローパスフィルタ動作を受け、改良された像を導出するためのピクセル強度のスレッシュホールドが決められる。この改良された像は、次いで、鋭い遷移又は徐々の遷移に相接する隣接部へと作表又は編成され、染みとして定義された特定領域が識別され、これは、所与の最小面積、形状要求及び/又は巾と比較されるときに、求められる表面不完全さの1つとして識別することができる。
請求項（抜粋）：
半透明物体をその物体の少なくとも1つの選択された表面特徴に基づいて分類する方法において、 物体に光を当てて物体内で光を散乱させ、 物体の表面を透過する上記散乱光を検出し、 上記検出された光を、上記表面の複数の定められた領域の各々を透過する光の相対的な強度を表すデータに変換し、 上記データを分析して、表面の選択された特徴の存在を決定し、そして 上記決定に基づいて物体を分類する、 という段階を備えたことを特徴とする方法。
IPC (4件)：
G01B 11/30
, B07C 5/10
, G01B 11/28
, G01N 21/85
G01B 11/30 Z
, B07C 5/10
, G01B 11/28 Z
, G01N 21/85 A
