特許

J-GLOBAL ID：200903045728315139

測定チップ

発明者： 久保 隆 ,  村石 勝明
出願人/特許権者： 富士写真フイルム株式会社
代理人 (1件)： 柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-081968
公開番号（公開出願番号）：特開2002-277390
出願日： 2001年03月22日
公開日（公表日）： 2002年09月25日
要約：

【要約】【課題】 全反射減衰を利用した表面プラズモン共鳴測定装置等の測定装置に用いられる測定チップを、測定装置上での位置精度が出しやすく、また、ハンドリング性に優れたものとする。【解決手段】 誘電体ブロック11と、この誘電体ブロック11の一面に形成されて試料に接触させられる薄膜層12とからなる測定ユニット10を複数1列に並べて一体化して測定ユニット連結体8とする。

請求項（抜粋）：

誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成されて試料に接触させられる薄膜層と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件となり、かつ、種々の入射角成分を含むようにして入射させる光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して全反射減衰の状態を検出する光検出手段とを備えてなる、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップであって、前記誘電体ブロックおよび薄膜層からなる測定ユニットが複数、1列に並べて一体化されてなることを特徴とする測定チップ。

IPC (4件)：

G01N 21/27 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 35/04 ,  G01N 37/00 101

FI (4件)：

G01N 21/27 C ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 35/04 H ,  G01N 37/00 101

Fターム (25件)：

2G058AA09 ,  2G058CC14 ,  2G058CC17 ,  2G058CD01 ,  2G058CD21 ,  2G058CF22 ,  2G058ED16 ,  2G058GA02 ,  2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059CC17 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059FF11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ19 ,  2G059JJ20 ,  2G059KK04 ,  2G059PP01