特許

J-GLOBAL ID：200903045731583330

電子システムのパラメータを測定する方法及び装置

発明者： アレックス・バレンタイン ,  デイビッド・フィンレイ・テイラー
出願人/特許権者： アジレント・テクノロジーズ・インク
代理人 (1件)： 古谷 馨 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-128955
公開番号（公開出願番号）：特開2002-009723
出願日： 2001年04月26日
公開日（公表日）： 2002年01月11日
要約：

【要約】【課題】 同期テ ゙ィシ ゙タル階層システムでのMITE(340)等のテ ゙ィシ ゙タル伝送システムでのタイミンク ゙誤差の測定を第1ステーシ ゙(260)でサンフ ゚ル(225)を使用して第1の長さの観測期間(各観測期間はサンフ ゚ル期間の何倍も大きい)にわたり所与のハ ゚ラメータについて第1の経時的に変化する一連の測定値(300)をリアルタイムで生成することにより行う。【解決手段】 後続ステーシ ゙(280,280')は、前の観測期間を副期間として取り扱うことで導出された次第に長くなる観測期間に対応する更なる一連の測定値を導出する。第1ステーシ ゙(260)は、所定の間隔について中間結果を導出し、連続する副期間についてこれを繰り返し、該中間結果をFIFOテ ゙ータセット(300)に格納し、及び少なくとも1副期間につき1回更新して、必要とされるハ ゚ラメータ(335)を導出する。第2及び後続ステーシ ゙は同様にして次第に長くなる観測期間の長さに対応する必要とされるハ ゚ラメータを導出し、テ ゙ータセットの更新として前記測定値を更新する。

請求項（抜粋）：

一連の入力データサンプルを参照して電子システムのパラメータを測定する方法であって、該データサンプルを第1ステージプロセスで処理して、第1の長さの観測期間にわたり前記データサンプルを特徴づける所与のパラメータについて少なくとも第1の経時的に変動する一連の測定値をリアルタイムで生成し、それら観測期間の各々が、前記一連の入力データサンプルのサンプリング期間の何倍も長いものであり、該第1ステージプロセスが、所定の1つの副期間中に受容した一連の入力データサンプルから少なくとも1つの第1の中間結果を導出し、この導出処理を連続する複数の副期間について繰り返して一連の第1の中間結果を生成し、有限数の該第1の中間結果を第1のデータセット中に格納して、該格納された中間結果に対応する一組の副期間によって前記第1の長さの観測期間がもたらされるようにし、前記第1のデータセットが、最も旧い中間結果を破棄して新規の中間結果を加えることにより少なくとも1つの副期間につき1回更新され、該第1のデータセットから、前記観測期間に対応する前記所与のパラメータの測定値を導出し、該第1のデータセットを更新する際に前記測定値を更新して前記一連の測定値を生成する、という各ステップを含む、電子システムのパラメータを測定する方法。

IPC (5件)：

H04J 3/14 ,  G01R 29/02 ,  H04J 3/00 ,  H04J 3/06 ,  H04L 7/00

FI (5件)：

H04J 3/14 A ,  G01R 29/02 L ,  H04J 3/00 U ,  H04J 3/06 D ,  H04L 7/00 H

Fターム (10件)：

5K028AA00 ,  5K028NN31 ,  5K028PP15 ,  5K028PP22 ,  5K047AA00 ,  5K047CC02 ,  5K047GG10 ,  5K047KK02 ,  5K047KK13 ,  5K047MM38