特許

J-GLOBAL ID：200903045756894861

X線診断装置

発明者： 本田 道隆
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-205201
公開番号（公開出願番号）：特開平8-066389
出願日： 1994年08月30日
公開日（公表日）： 1996年03月12日
要約：

【要約】【目的】 被検体の被曝線量と、画像のS/N比またはコントラスト値を所定の基準に保つようにX線出力条件を決定できるX線診断装置を提供する。【構成】 被検体にX線を曝射するX線管球3と、前記被検体を透過した透過X線像を光学像に変換するI.I.13と、前記光学像の透過量を制御する光学系15と、前記光学像を撮影するTVカメラ17と、S/N比を設定するとともに、前記撮影する透過X線像のS/N比を前記設定されたS/N比とするX線管3のX線曝射条件及び光学系15の光量透過率を求める演算部31と、X線管3及び光学系15をそれぞれ制御するX線コントローラ5と、支持器コントローラ9とから成る。

請求項（抜粋）：

被検体にX線を曝射するX線管と、前記被検体を透過した透過X線像を光学像に変換する変換手段と、前記光学像の透過量を制御する絞り手段と、前記光学像を撮影する撮影手段と、S/N比を設定する設定手段と、前記撮影する透過X線像のS/N比を前記設定されたS/N比とする前記X線管のX線曝射条件及び前記絞り手段の光量透過率を求め、前記X線管及び前記絞り手段をそれぞれ制御する制御手段とを備えることを特徴とするX線診断装置。

IPC (2件)：

A61B 6/00 320 ,  H05G 1/64

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭62-015800
  
• 特開平3-149036
  
• 特開平3-182179
  
• 特開昭55-056399