特許
J-GLOBAL ID：200903045766393798
エッジ位置検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-047671
公開番号（公開出願番号）：特開平7-229715
出願日： 1994年02月21日
公開日（公表日）： 1995年08月29日
要約：
【要約】【目的】 一次元イメージセンサを用いた寸法測定器において、明、暗の光量のレベルの変動に起因するエッジ位置の検出誤差を小さくして、測定精度を向上させる。【構成】 対象物に光を照射し、その透過光または反射光を一次元イメージセンサに受光させて、一次元イメージセンサからの出力に基づいてエッジの位置を検出し、所定のエッジを基準とした寸法を測定する寸法測定器に関する。エッジを検出する基準となる閾値を、受光素子が受光した光量に基づいて算出する。たとえば、「明」のレベルが低下した場合は、閾値のレベルも下げる。
請求項（抜粋）：
対象物に光を照射し、その透過光または反射光を受光素子に受光させて、受光素子からの出力に基づいてエッジの位置を検出するエッジ位置検出装置であって、上記受光素子が受光した光量と、エッジを検出する基準となる閾値に基づいてエッジの位置を求めるエッジ検出手段と、上記受光素子が受光した光量に基づいて上記閾値を算出する閾値算出手段とを備えたエッジ位置検出装置。
IPC (2件)：
引用特許：
審査官引用 (2件)
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特開昭64-082181
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特開昭64-082181
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