特許
J-GLOBAL ID：200903045778539968
粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-089425
公開番号（公開出願番号）：特開平7-294412
出願日： 1994年04月27日
公開日（公表日）： 1995年11月10日
要約：
【要約】【目的】 レーザ光照射部分に一定量の粉体サンプルを供給することができる粉体の粒度分布測定装置を提供する。【構成】 サンプル供給器1の下に設けた導入筒2に、粉体の大きさよりも十分に大きい目開きの網3を、水平方向に複数個設けるとともに、これら網3を水平方向に調整する位置調整装置4、4’と、導入筒2を振動する振動装置5とを設け、レーザ光源6からのレーザ光L照射部分には一定量の粉体サンプルSを供給し、その回折・散乱光Rを検出器7で検出する。
請求項（抜粋）：
落下する粉体にレーザ光を照射し、その回折・散乱光を検出して粉体の粒度分布を測定する粒度分布測定装置において、前記レーザ光照射部分の上方に、粉体の大きさよりも十分に大きい目開きである複数個の網を、粉体落下路中に重ねて配置するとともに、これら網の少なくとも一つ以上を水平面に沿ってその位置を調整する手段を併せ設けたことを特徴とする粒度分布測定装置。
IPC (3件)：
G01N 15/02
, G01N 15/00
, G01N 15/14
