特許

J-GLOBAL ID：200903045828025553

微小粒子の光学的測定方法及び光学的測定装置

発明者： 篠田 昌孝 ,  今西 慎悟
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-278907
公開番号（公開出願番号）：特開2009-109218
出願日： 2007年10月26日
公開日（公表日）： 2009年05月21日
要約：

【課題】輝度レベルの差が大きい複数の蛍光又は散乱光を検出する場合でも、蛍光補正及びデータ解析における精度が高く、信頼性が高い測定が可能で、かつレーザ光による微小粒子のダメージ及び変質を低減することができる微小粒子の光学的測定方法及び光学的測定装置を提供する。【解決手段】流路2内を一列になって通流する微小粒子3に、光照射部4からパルスレーザ光5を、パルス強度を変調しながら照射することにより、1つの微小粒子に対して、同一波長のレーザ光を複数回照射する。そして、レーザ光5によって微小粒子3から発せられた蛍光及び/又は散乱光10を、検出部11で検出する。このとき、検出部9に設けられた光検出器11の感度は固定しておく。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

流路内を通流する微小粒子にレーザ光を照射し、前記微小粒子から発せられた蛍光及び/又は散乱光を検出する光学的測定方法であって、 前記レーザ光をパルス状とし、そのパルス強度を変調させることにより、1つの微小粒子に1又は波長が異なる2以上のレーザ光を、強度を変えて複数回照射する微小粒子の光学的測定方法。

IPC (3件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/49

FI (3件)：

G01N15/14 D ,  G01N21/64 F ,  G01N21/49 Z

Fターム (31件)：

2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043BA17 ,  2G043CA04 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043FA06 ,  2G043GA06 ,  2G043GB10 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043JA04 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G059AA05 ,  2G059BB14 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059KK02 ,  2G059KK03

引用特許：

出願人引用 (2件)

• フローサイトメータおよびフローサイトメトリ方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-229536   出願人：ベイバイオサイエンス株式会社
• フローサイトメトリーを用い、蛍光標識を用いることなく、目的の細胞を迅速に分取する方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-115538   出願人：タマティーエルオー株式会社