特許
J-GLOBAL ID:200903045843175707

表面波による試験体の劣化度等評価方法及び劣化度等評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 北村 光司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-299537
公開番号(公開出願番号):特開平10-123106
出願日: 1996年10月23日
公開日(公表日): 1998年05月15日
要約:
【要約】【課題】 化学プラントや発電プラントにおける鋼材の鋭敏化等の劣化や粒界応力腐食割れ等の損傷を含む試験体の劣化度等を非破壊的手法により評価することの可能な劣化度等評価方法及び評価装置を提供する。【解決手段】 試験体Sの表面に探触子21から矢印P方向に超音波を斜めに入射させる。矢印R方向の探触子21による受信波のうち、後方散乱波Prの強度を測定し、その強度が最大となる超音波入射角iを求めることで、試験体Sの表面波音速を求め、音速低下の程度により試験体Sの劣化度等を評価する。探触子21の超音波入射角を一定に維持しつつ探触子21を移動させて超音波により試験体Sの表面を走査し、後方散乱波Prの強度をCスキャンにより各ゲートG1〜G8毎に表示し、超音波入射角iを適宜変更して同様の超音波走査及びその表示を行う。
請求項(抜粋):
表面波発生手段(1,60)により試験体(S)の表面における微小部分(Si)を刺激して表面波(Ps)を発生させ、この試験体(S)の表面波音速(C2)により試験体(S)の劣化又は損傷の程度を評価する表面波による試験体の劣化度等評価方法。
IPC (2件):
G01N 29/18 ,  G01N 29/22 501
FI (2件):
G01N 29/18 ,  G01N 29/22 501

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