特許
J-GLOBAL ID：200903045847620110
光学的測定方法およびその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
津川 友士
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-111600
公開番号（公開出願番号）：特開平7-318481
出願日： 1994年05月25日
公開日（公表日）： 1995年12月08日
要約：
【要約】【目的】 励起光と蛍光を空間的に分離して迷光を低減し、光学系の構成を簡素化する。【目的】 励起光2をスラブ型光導波路1に導入し、励起光2に起因するエバネッセント波により励起される蛍光のうち、一旦スラブ型光導波路1に侵入し、励起光2と所定角度をなす方向に伝播する蛍光を蛍光検出器4により検出する。
請求項（抜粋）：
スラブ型光導波路(1)(11)に励起光(2)を導入し、スラブ型光導波路(1)(11)内を全反射しながら伝播する励起光(2)に起因して生じるエバネッセント波成分を用いてスラブ型光導波路(1)(11)の、励起光を全反射させる面の近傍に存在する蛍光物質を励起し、励起された蛍光を測定する光学的測定方法であって、上記エバネッセント波成分により励起された蛍光のうち、上記励起光を全反射させる面を通して一旦スラブ型光導波路(1)(11)に侵入し、スラブ型光導波路の、励起光入射面、励起光出射面および上記励起光を全反射させる面を除く端面に向かって伝播する蛍光成分(3)を検出することを特徴とする光学的測定方法。
IPC (2件)：
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