特許

J-GLOBAL ID：200903045919752547

腐食電位測定装置

発明者： 山内 博史 ,  小野田 武志 ,  川上 寿雄 ,  拝郷 達雄 ,  辻 義嗣
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  関西電力株式会社
代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-298033
公開番号（公開出願番号）：特開2001-116715
出願日： 1999年10月20日
公開日（公表日）： 2001年04月27日
要約：

【要約】【課題】試料電極の表面を清浄化あるいは表面皮膜を除去し、正確な腐食電位を簡便に測定する腐食電位測定装置を提供する。【解決手段】金属からなる試料電極と該試料電極の電位基準となる参照電極を内包するセルを有し、該試料電極と該参照電極間の電位差を測定する電位差計を備えた腐食電位測定装置において、該セルは試料水を出し入れする入口と出口とを有し、該セルの入口側に化学薬品を注入する薬品注入部を有し、該セル内に該化学薬品を注入することにより該試料電極の表面に付着した皮膜を除去する手段を有することを特徴とする腐食電位測定装置。

請求項（抜粋）：

金属からなる試料電極と該試料電極の電位基準となる参照電極を内包するセルを有し、該試料電極と該参照電極間の電位差を測定する電位差計を備えた腐食電位測定装置において、該セルは試料水を出し入れする入口と出口とを有し、該セルの入口側に化学薬品を注入する薬品注入部を有し、該セル内に該化学薬品を注入することにより該試料電極の表面に付着した皮膜を除去する手段を有することを特徴とする腐食電位測定装置。

IPC (2件)：

G01N 27/26 ,  C23F 15/00

FI (2件)：

G01N 27/26 H ,  C23F 15/00

Fターム (11件)：

4K062AA03 ,  4K062AA05 ,  4K062BA08 ,  4K062BA11 ,  4K062BB06 ,  4K062CA10 ,  4K062EA04 ,  4K062EA11 ,  4K062EA14 ,  4K062FA06 ,  4K062GA10