特許
J-GLOBAL ID：200903045925964270
帯状体の検査装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
半田 昌男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-183575
公開番号（公開出願番号）：特開平5-332949
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：
【要約】【目的】 異物の侵入による誤検査を防止することができる帯状体の検査装置を提供する。【構成】 本装置は、供給リールと巻取リールとの間に設けられた自動検査部と、検査の際にTABテープ3を挟持する挟持装置40と、TABテープ3に圧縮エアを吹きつける圧縮エア装置47とを備えている。圧縮エア装置47はTABテープ3の各フレームが検査位置に搬送される際に、或いは搬送後に上下のクランプ41,44でクランプする前に、エアチューブ46を介して、TABテープ3の表面及び裏面に圧縮エアを吹きつける。これにより、TABテープ3に付着していた、塵等の異物を吹き飛ばす。
請求項（抜粋）：
所定数のフレーム毎に被検査物である帯状体の瑕疵の有無を検査する帯状体の検査装置において、前記帯状体の検査時に前記所定数のフレーム毎に前記帯状体を光透過性部材により挟持する挟持手段と、前記帯状体を前記光透過性部材で挟持する際に、前記帯状体と前記光透過性部材との間に侵入した異物を除去する除去手段と、を設けたことを特徴とする帯状体の検査装置。
IPC (2件)：
前のページに戻る
