特許
J-GLOBAL ID:200903045973454322
汎用性が改善された検体試験機器
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
川口 義雄
, 小野 誠
, 大崎 勝真
, 坪倉 道明
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-568861
公開番号(公開出願番号):特表2006-511818
出願日: 2003年12月08日
公開日(公表日): 2006年04月06日
要約:
2つの電極を有するテストストリップおよび3つの電極を有するテストストリップを使用して評価分析を実行するための、較正ストリップによって提供される情報を使用して構成することができるテストストリップ回路を有する検体試験機器である。本発明による検体試験機器は、(a)テストストリップを受け入れるための試験ポートと、(b)検体試験機器にダウンロードされる命令を実行するためのマイクロプロセッサと、(c)マイクロプロセッサによって設定される複数の構成を持たせることができるテストストリップ回路とを備えており、テストストリップを使用して評価分析を実行することができる。
請求項(抜粋):
テストストリップを使用した評価分析の実行に適した検体試験機器であって、
(a)テストストリップを受け入れる試験ポートと、
(b)前記機器にダウンロードされる命令を実行するマイクロプロセッサと、
(c)前記マイクロプロセッサによって設定される複数の構成を有することができるテストストリップ回路と
を備え、前記テストストリップを使用して評価分析を実行することができる検体試験機器。
IPC (3件):
G01N 27/327
, G01N 33/66
, G01N 27/416
FI (4件):
G01N27/30 353Z
, G01N33/66 D
, G01N27/46 338
, G01N27/46 336H
Fターム (11件):
2G045AA13
, 2G045CA25
, 2G045DA04
, 2G045DA28
, 2G045DA31
, 2G045FB05
, 2G045FB17
, 2G045GC20
, 2G045HA14
, 2G045JA01
, 2G045JA07
引用特許:
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