特許
J-GLOBAL ID：200903045997310844
曲率半径測定方法及び測定システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
渡辺 隆男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-029847
公開番号（公開出願番号）：特開2000-227322
出願日： 1999年02月08日
公開日（公表日）： 2000年08月15日
要約：
【要約】【解決課題】 光学部品等の曲率半径を高精度に、非接触で測定でき、生産現場において用いるのに好適な測定法及び装置を提供する。【解決手段】 点接触にて測定外領域を支え、頂点の位置を変位センサーにて測定する。また、マスター(原器)との比較測定として、マスターと被検レンズの頂点の位置の差を計測し、既知である原器の曲率半径を基に決める。
請求項（抜粋）：
被検レンズをホルダー部に保持し、保持された被検レンズの被検面上の一点の位置座標を変位センサーにより測定し、該測定値と被検面がホルダー部と接触する複数の点の座標とから被検面の曲率半径を計算することを特徴とする曲率半径測定方法。
Fターム (12件)：
2F069AA04
, 2F069AA53
, 2F069BB40
, 2F069GG04
, 2F069GG06
, 2F069GG07
, 2F069GG13
, 2F069GG73
, 2F069HH09
, 2F069MM02
, 2F069RR03
, 2F069RR05
