特許
J-GLOBAL ID：200903046009288630
電子式方位計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉村 次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-352158
公開番号（公開出願番号）：特開平6-174472
出願日： 1992年12月10日
公開日（公表日）： 1994年06月24日
要約：
【要約】【目的】 磁気センサの着磁に伴なう方位の計測精度の低下を回避できる電子式方位計を提供する。【構成】 CPU7により制御する構成とし、磁気センサ部1にバイアス磁界を与えるべく巻かれているコイルL1、L2を利用して、磁気センサ部1に交番減衰磁界を印加し、磁気センサ部1を消磁するようにした。この場合、CPU7から基準電圧源6への計測スタート信号STが送られる度に、この基準電圧源6からバイアス回路4に与える基準電圧Vrefを大きいものにしていき、バイアス回路4からコイルL1、L2に送出される電流を、少なくしていくようにした。
請求項（抜粋）：
磁界の強さを検出する磁気検出手段と、この磁気検出手段にバイアス磁界を印加するバイアス磁界印加手段と、このバイアス磁界印加手段でバイアス磁界が印加されている際の前記磁気検出手段の検出した磁界の強さから方位を求める方位算出手段と、前記磁気検出手段で検出された磁界の強さが所定の範囲内にあるか否かを判別する磁界判別手段と、この磁界判別手段で前記磁気検出手段で検出された磁界の強さが所定の範囲内にないと判別された場合に、前記バイアス磁界印加手段に、消磁用の交番減衰磁界を発生せしめるバイアス磁界制御手段とを備えたことを特徴とする電子式方位計。
IPC (4件)：
G01C 17/32
, G01C 17/38
, G01R 33/02
, G01R 33/06
