特許
J-GLOBAL ID:200903046018651225

適応的同定方法とそれを用いた制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 隆久
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-293118
公開番号(公開出願番号):特開平9-134204
出願日: 1995年11月10日
公開日(公表日): 1997年05月20日
要約:
【要約】【課題】 非線形要素および/または時変系要素を含む制御対象を数学モデルに同定出来なかった。【解決手段】 制御対象6の伝達関数G(z)を下記式に示すむだ時間dを有する2変数多項式として仮想的なモデルとして、適応同定装置10においてこのモデルを用いて目標値yr に対するプロセスモデルの結果y’(k)を演算し、同じ目標値yr に対して動作する制御対象6の実際の操作結果y(k)との偏差eを算出して、この偏差が最小になるように、漸近的に、むだ時間d,2変数の次数n,mを決定し、プロセス変数a,bを決定して、伝達関数を同定する。【数32】
請求項(抜粋):
非線形要素および時変系要素またはいずれか一方を含む制御対象の伝達関数を同定する適応的同定方法であって、(イ)前記制御対象の伝達関数を離散系の下記伝達関数G(z)として仮定的に規定し、【数1】(ロ)操作量u(k)に対する前記制御対象の実際の操作結果y(k)を下記式で規定し、【数2】(ハ)前記制御対象を同定するため、操作量uが印加されたときのプロセスモデルを下記式で規定し、【数3】(ニ)前記プロセスパラメータak ,bK の初期値a0 ,b0 を所定の値に設定し、(ホ)前記実際の操作結果y(k)と、前記プロセスモデルの結果y’(k)との偏差e(k)=y(k)-y’(k)を算出し、(ヘ)下記式に基づいて、該偏差e(k)と前回のサンプリング時刻のプロセスパラメータak,i ,bk,i を用いて次回のサンプリング時刻のプロセスパラメータak+1,i ,bk+1,i を更新し、ただし、変数α,βをプロセスパラメータa,bが動的に変化する値になるように設定する。【数4】(ト)あるむだ時間dにおけるプロセス次数n,mを徐々に増加させてそのときの前記偏差e(k)の総和を最小にするように前記プロセスパラメータの一致度から最適なプロセスパラメータの次数n,mを決定し、(チ)むだ時間dを変えて、さらにプロセスパラメータの次数n,mを徐々に増加させてそのときの前記偏差e(k)の総和を最小にするように前記プロセスパラメータの一致度から最適のむだ時間を決定し、(リ)前記得られたプロセスパラメータの次数と、得られた最適なむだ時間についての、前記伝達関数のプロセスパラメータ(ai )、(bi )を操作量uと実際の操作結果y(k)その偏差eが最小になるように決定し、(ヌ)前記決定したむだ時間、前記決定した次数n,mのプロセスパラメータ(ai ),(bi )を用いて、前記制御対象の伝達関数を同定する適応的同定方法。

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