特許

J-GLOBAL ID：200903046088421952

シアン濃度測定方法及び測定装置

発明者： 八谷 宏光
出願人/特許権者： 東亜ディーケーケー株式会社
代理人 (1件)： 倉橋 暎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-255930
公開番号（公開出願番号）：特開2008-076235
出願日： 2006年09月21日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：

【課題】高精度の、しかも連続測定も可能なシアン濃度測定方法及び測定装置を提供する。【解決手段】試料水S0を25.7°C未満で氷結しない温度環境下にて撹拌し、試料水S0から硫化水素を気化させて除去する前処理を行い、その後、イオン電極又はシアン化水素ガスセンサにて試料水のシアン濃度を測定するシアン濃度測定方法である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料水のシアン濃度を測定するシアン濃度測定方法において、 試料水を25.7°C未満で氷結しない温度環境下にて撹拌し、試料水から硫化水素を気化させて除去する前処理を行い、その後、イオン電極又はシアン化水素ガスセンサにて試料水のシアン濃度を測定することを特徴とするシアン濃度測定方法。

IPC (4件)：

G01N 1/28 ,  G01N 1/10 ,  G01N 27/416 ,  G01N 1/22

FI (5件)：

G01N1/28 K ,  G01N1/10 J ,  G01N27/46 371J ,  G01N1/10 F ,  G01N1/22 N

Fターム (8件)：

2G052AA06 ,  2G052AB01 ,  2G052AC03 ,  2G052AD26 ,  2G052EB13 ,  2G052ED15 ,  2G052FD02 ,  2G052GA21

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特開昭51-62088号公報
  
• 特開昭54-50397号公報