特許
J-GLOBAL ID：200903046210798760
製造プロセスからのアイテムまたは材料の監視方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
青木 篤
, 鶴田 準一
, 島田 哲郎
, 下道 晶久
, 南山 知広
, 水谷 好男
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-531308
公開番号（公開出願番号）：特表2009-508270
出願日： 2006年09月13日
公開日（公表日）： 2009年02月26日
要約：
本発明は、製造プロセスからアイテムおよび/または材料を監視する方法に関する。本発明の一実施形態は、複数のRFIDタグ付き容器、および製造プロセスの異なる部分に関連する複数のステーションを使って、製造プロセスからのアイテムおよび/または材料を監視する方法を提供するもので、各ステーションはRFID読取機を備える。
請求項（抜粋）：
製造プロセスからのアイテムおよび/または材料の監視方法であって、
製造プロセスを用意する工程であって、前記製造プロセスは、前記製造プロセスの異なる部分に関連する複数のステーションを含み、各ステーションは前記ステーションに関連する高周波ID(「RFID」)読取機を備える工程と、
複数のRFIDタグ付き容器を用意する工程であって、各容器は関連したRFIDタグを有する工程と、
前記RFIDタグ付き容器の少なくとも1つを前記ステーションの少なくとも1つに設置する工程と、
前記RFIDタグ付き容器の少なくとも一部を前記製造プロセスから生成されるアイテムおよび/または材料で充填する工程と、
前記RFIDタグ付き容器が設置される前記ステーションの場所を少なくとも記録するために、前記ステーションと関連する前記RFID読取機を用いて前記RFIDタグ付き容器へ問い合わせ、前記問い合わせの時間を記録する工程と、
前記ステーションの前記RFIDタグ付き容器内に置かれた前記アイテムおよび/または材料に関する情報を入手する工程と、
前記RFIDタグ付き容器内の前記アイテムおよび/または材料に対してどのようなアクションを実行するかを決定する工程と、
を含む方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G05B19/418 Z
, G06F17/60 108
3C100AA56
, 3C100BB11
, 3C100BB24
, 3C100BB25
, 3C100CC02
, 3C100DD07
, 3C100DD14
, 3C100DD21
, 3C100DD33
, 3C100EE20
