特許
J-GLOBAL ID：200903046320506137
回路基板検査装置のテストヘッド
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 一雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-079630
公開番号（公開出願番号）：特開平11-281673
出願日： 1998年03月26日
公開日（公表日）： 1999年10月15日
要約：
【要約】【課題】 接触ピンとコイルばねのいずれか一方を内部に保持したままで、他方を容易に点検・交換できるようにする。【解決手段】 テストヘッドは、導電性の接触ピン1と、この接触ピン1を軸線方向に被検査物側へ付勢する導電性のコイルばね2とを備えている。また、テストヘッドは、順次分離可能に積層締結されたピンブロック5、ばねブロック6及び背面ブロック7を有し、被検査物に対して接触ピン1の軸線方向に相対的に離接可能となった絶縁性のブロック部4を備えている。このうち、ピンブロック5は、接触ピン1を軸線方向に摺動自在かつばねブロック6に対応する側からのみ挿脱可能に保持するピン保持孔50, 52, 54を有している。ばねブロック6は、コイルばね2を背面ブロック7に対応する側からのみ挿脱可能に収納するばね収納孔60を有している。
請求項（抜粋）：
先端部を被検査物に接触させるための導電性の接触ピンと、この接触ピンの基端部に対してその一端が接触し、前記接触ピンを軸線方向に前記被検査物側へ付勢する導電性のコイルばねと、このコイルばねを所定の検査手段に対して電気的に接続するための接続手段と、順次分離可能に積層締結されたピンブロック、ばねブロック及び背面ブロックを有し、前記被検査物に対して前記接触ピンの軸線方向に相対的に離接可能となった絶縁性のブロック部とを備え、前記ブロック部のピンブロックは、前記接触ピンを軸線方向に摺動自在かつ前記ばねブロックに対応する側からのみ挿脱可能に保持するピン保持孔を有し、前記ブロック部のばねブロックは、前記コイルばねを前記背面ブロックに対応する側からのみ挿脱可能に収納するばね収納孔を有することを特徴とする回路基板検査装置のテストヘッド。
IPC (3件)：
G01R 1/067
, G01R 1/073
, G01R 31/02
G01R 1/067 C
, G01R 1/073 D
, G01R 31/02
