特許

J-GLOBAL ID：200903046328790292

マイクロ波による粉粒体の水分測定装置

発明者： 藤原 浩二 ,  徳田 将敏 ,  紫冨田 浩
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 生形 元重 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-301866
公開番号（公開出願番号）：特開平6-129981
出願日： 1992年10月13日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：

【要約】【目的】 ベルトコンベア2により体積変動を伴いながら輸送される粉粒体1の含有水分を、その体積変動に影響されることなく高精度に測定する。【構成】 コンベアラインにマイクロ波方式の水分計3と、スクレーパー4と、粉粒体1の層厚を測定するための距離計5とを設ける。粉粒体1がスクレーパー4の下をくぐり抜けたときに、水分計3が測定したデータに、粉粒体1の層厚に基づく補正を加える。

請求項（抜粋）：

ベルトコンベアにより輸送される粉粒体にマイクロ波を照射してその水分含有率を測定する水分計と、該水分計より上流側のコンベアラインに設けられて、ベルトコンベア上の粉粒体の表面を掻き均すスクレーパーと、該スクレーパーより下流側のコンベアラインに設けられて、ベルトコンベア上の粉粒体の層厚を測定する測定系と、該測定系により測定された粉粒体の層厚に基づいて、前記水分含有率の測定値を補正する補正系と、を具備することを特徴とするマイクロ波による粉粒体の水分測定装置。