特許
J-GLOBAL ID：200903046330367305
電子部品位置姿勢計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-270628
公開番号（公開出願番号）：特開平6-117815
出願日： 1992年10月08日
公開日（公表日）： 1994年04月28日
要約：
【要約】【構成】 まず、面積、一次モ-メント、二次モ-メント、相乗モ-メントから、図形10(被計測体)の重心Gおよび慣性主軸角αを求め、次に、上記図形の各辺1a、1b上の複数のエッジ点A...、B...を調べることによって上記図形10と電子部品1の一致性を調べ、一致していないときには上記複数のエッジ点A...、B...から求めた近似直線L1 、L2 を用いて電子部品1の新たな重心G′および傾き角(慣性主軸角)α1 、α2 を求めるようにしたものである。【効果】 電子部品から吸着ノズル等がはみだし、電子部品の外形が正確に検出できない場合であってもこの電子部品の位置および姿勢を正確に検知することができるという効果がある。
請求項（抜粋）：
矩形状の電子部品を含む被計測体の入力画像デ-タを走査して、順次2値化処理を行い、上記被計測体をハイレベルあるいはロ-レベルで示して出力する2値化処理工程と、上記入力画像デ-タの走査位置座標を求める座標算出工程と、上記2値化処理工程における2値化出力が上記被計測体を示すレベルのときに、このレベルの画素の面積を求めると共に、上記座標算出工程から上記走査位置座標を受け取って一次モ-メント、二次モ-メント、相乗モ-メントを算出する和積算出工程と、この和積算出工程で求めた面積、一次モ-メント、二次モ-メント、相乗モ-メントから上記入力画像デ-タの内の被計測体の重心および慣性主軸方向を求める第1の位置姿勢算出工程と、上記被計測体の少なくとも対向する2辺について、各辺上の点を複数個求め、この複数の点から上記被計測体の各辺の近似直線を求め、各辺について、この近似直線と上記複数の点との偏差を算出する偏差算出工程と、上記被計測体の上記各辺ごとに、上記偏差と所定のしきい値とを比較し、すべての辺について上記偏差が所定のしきい値以下である時には、上記第1の位置姿勢算出工程で求めた重心および主軸方向を電子部品の位置および傾き角として出力し、各辺のうち上記偏差がしきい値以上の辺がある時には、その辺以外の辺を表す近似直線からこの電子部品の位置および傾き角を算出して出力する第2の位置姿勢算出工程とを具備したことを特徴とする電子部品の位置姿勢計測方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01B 11/26
, H05K 13/04
