特許

J-GLOBAL ID：200903046347164645

打鍵試験装置

発明者： 谷本 力 ,  井上 裕行 ,  藤本 健夫
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 久保 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-118683
公開番号（公開出願番号）：特開平5-312679
出願日： 1992年05月12日
公開日（公表日）： 1993年11月22日
要約：

【要約】【目的】本発明は、ライトペン、キースイッチなどの打鍵部を有した打鍵機器の試験装置に関し、打鍵機器の試験を容易に短期間で行い、打鍵機器に対する的確な評価を行うことを可能にすることを目的とする。【構成】往復移動可能に設けられたアーム14と、アーム14を往復移動させる駆動源16と、アーム14の往復移動ストロークを調整するためのストローク調整用の連結穴33a,bと、アーム14の先端部に取り付けられ、被試験物WK又は試験用治具JGを取り付けるための把持部材15と、把持部材15の下方に配置されて試験用治具JG又は被試験物WKを取り付けるための受け台21と、アーム14の移動速度を可変するよう駆動源16を制御する駆動制御部51と、アーム14の往復移動回数をカウントする回数カウンタ52とを有して構成される。

請求項（抜粋）：

往復移動可能に設けられたアーム(14)と、前記アーム(14)を往復移動させる駆動源(16)と、前記アーム(14)の往復移動ストロークを調整するためのストローク調整部(33a,b)と、前記アーム(14)の先端部に取り付けられ、被試験物(WK)又は試験用治具(JG)を取り付けるための把持部材(15)と、前記把持部材(15)の下方に配置されて試験用治具(JG)又は被試験物(WK)を取り付けるための受け台(21)と、前記アーム(15)の移動速度を可変するよう前記駆動源(16)を制御する駆動制御部(51)と、前記アーム(14)の往復移動回数をカウントする回数カウンタ(52)とを有してなることを特徴とする打鍵試験装置。

IPC (2件)：

G01M 13/00 ,  G01R 31/00